首頁 > 我們的服務(wù) > 環(huán)境與可靠性測(cè)試 > 高加速試驗(yàn)
高加速試驗(yàn)一般分為寶加速壽命試驗(yàn)和高加速應(yīng)力應(yīng)力篩選試驗(yàn)，高加速壽命試驗(yàn)（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗(yàn)）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測(cè)試，是一種協(xié)助設(shè)計(jì)工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒有預(yù)先設(shè)定極限，極限由產(chǎn)品決定，逐步增加應(yīng)力，直至失效，試驗(yàn)中需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測(cè)。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗(yàn)產(chǎn)品通過HALT試驗(yàn)得出操作或破壞極限值后所做的高加速應(yīng)力篩選,應(yīng)力低于HALT試驗(yàn)。
產(chǎn)品范圍
可為電工電子、儀器儀表、汽車以及航天產(chǎn)品的模塊、通訊終端、部件以及整機(jī)等開展Halt/Hass試驗(yàn)。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS，CMA
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 29309；
DKBA1141《通信產(chǎn)品HALT試驗(yàn)規(guī)范》
照片
試驗(yàn)項(xiàng)目
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